美國International Light紫外輻照計XSD340AT7規格說明書

美國ILT2400輻照計配合XSD340AT7探頭可用于測量320~475nm波段、中心波長405nm的輻照度，量程8e-6至60W/cm2，可用于高強度曝光機UV固化工藝測量，以及光阻劑測量、3D打印等監測應用。關于美國International Light XSD340AT7 紫外輻照計詳細產品介紹請點擊圖片或網址http://m.jwjzzs.com/XSD340AT7.html

美國International Light XSD340AT7 紫外輻照計

XSD340AT7說明書文檔下載地址

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UVA說明書：http://m.jwjzzs.com/download/201601/UV-A_manual.pdf

ST-513說明書：http://m.jwjzzs.com/download/201508/Sentry_ST510-ST512-ST513.pdf

HD-10說明書：http://m.jwjzzs.com/download/202503/Peifbnu_HD-10_UV-VIS.pdf

XSD140B說明書：http://m.jwjzzs.com/download/201805/ILT2400_XSD140B.pdf

SED254QT說明書：http://m.jwjzzs.com/download/201805/ILT2400_SED254-QT.pdf