美國International Light紫外輻照計XSD340B規格說明書

國際光學International Light ILT2400和XSD340B光刻膠測量系統用于326-401nm波段紫外線輻照度監測，校準于365nm光阻劑作用光譜，精確地知道光致抗蝕劑曝光的程度，可測量高達30W/cm2 高強度，用于PCB印刷電路板光及半導體業。關于美國International Light XSD340B 紫外輻照計詳細產品介紹請點擊圖片或網址http://m.jwjzzs.com/XSD340B.html

美國International Light XSD340B 紫外輻照計

XSD340B說明書文檔下載地址

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UVA說明書：http://m.jwjzzs.com/download/201601/UV-A_manual.pdf

ST-513說明書：http://m.jwjzzs.com/download/201508/Sentry_ST510-ST512-ST513.pdf

HD-10說明書：http://m.jwjzzs.com/download/202503/Peifbnu_HD-10_UV-VIS.pdf

XSD140B說明書：http://m.jwjzzs.com/download/201805/ILT2400_XSD140B.pdf

SED254QT說明書：http://m.jwjzzs.com/download/201805/ILT2400_SED254-QT.pdf